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SEMICON & OPTO半導體設備

半導體設備

晶圓/芯片測試

ficonTEC T1200 晶圓測試設備

  1. 適應6至12英寸晶圓

  2. 可測試IL/PDL/RF/DC

  3. 晶圓級測試

  4. 光柵耦合/邊耦合測試

  5. 快速耦合 (<1s)

  6. 超高耦合重復性 (<0.1dB)

  7. 設備尺寸: 1200X1200X2000

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